File:Illustration of C-V measurement.gif
外观
Illustration_of_C-V_measurement.gif (322 × 308像素,文件大小:93 KB,MIME类型:image/gif、循环、18帧、5.4秒)
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日期/时间 | 缩略图 | 大小 | 用户 | 备注 | |
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当前 | 2010年5月17日 (一) 19:26 | ![]() | 322 × 308(93 KB) | Beatnik8983 | {{Information |Description={{en|1=C-V measurements can reveal oxide thickness, oxide charges, contamination from mobile ions, and interface trap density in wafer processes. In this image the C-V profile for a bulk p-type substrate MOSCAP with different ox |
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