自動光學檢查
外觀
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/8/8a/Diagram_of_a_charge-coupled_device.jpg/350px-Diagram_of_a_charge-coupled_device.jpg)
自動光學檢查(英語:Automated Optical Inspection,簡稱AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。
自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法,利用光學儀器取得成品的表面狀態,再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵,因為是非接觸式檢查,所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統,包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域,其開發應用不但符合高科技產業發展需求,其技術層面更可擴展至國防軍事工業,舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等,都與此影像技術息息相關。
基本架構
[編輯]- 自動光學檢測設備組成部位:
應用
[編輯]AOI技術領域非常廣泛,廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體,應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。
狹義的AOI則指目前大量應用工業自動化的LCD/TFT、電晶體與PCB工業製程上的光學檢測設備,以及在IC及一般電子業、機械工具/自動化機械、電機/電子工業、金屬鋼鐵業、食品加工/包裝業、紡織皮革工業、汽車工業、建築材料、保全/監視等的自動光學結合影像處理的系統。
發展趨勢
[編輯]- 技術規格
- 完整行程須在60 秒內(甚至更短)
- 錯誤判斷發生率的降低(避免操作人員的重複檢查)
- 盡可能的減少稼動損失(例如減少交換被檢查單元的時間)
- 提高模糊比對的功能
- 影像解析度不斷提高
- 可檢測出週邊線路(以往只需要檢測面板內部)
- 可儲存面板的瑕疵影像
- 自動分類瑕疵
- 設備功能
- 可輸出分析表格與圖形
- 可檢出Mura瑕疵功能
- 可處理修補瑕疵功能
參考連結
[編輯]參照
[編輯]參考文獻
[編輯]- 陳茂成,「從國際FPD 產業趨勢看國內發展商機與挑戰」,工研院IEK 產業情報網,2004 年12 月。
- 黃仲龍,「提昇LCD 設備自製率議題評析」,工研院IEK 產業情報網,2004 年11 月。
- 五十嵐大作,小田切章,久保哲夫, 「The Latext Optical Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen, Flat-screen TV Production」, 14th FPD manufacturing technology expo& conference, Tokyo Big Sight, Tower Bldg., Japan, July, 2004.
- 張鈞傑,黃俊堯,鄭晃忠,「缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用」,科儀新知,25 卷第二期,第23 頁至35 頁,2003 年10 月。
- 林道榮,「薄膜電晶體液晶面板自動光學檢測設備發展概況」,台灣工銀金融電子週報,2004 年06 月。
- Jung-Hun Kim, Suk Ahn, Jae Wook Jeon, Jong-Eun Byun, 「A highspeed high-resolution vision system for the inspection of TFT LCD」, IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Proceedings. ISIE 2001, vol.1, pp101-105, 2001.
- 黃仲龍,「LCD 設備產業發展概況與發展機會」,機械工業雜誌,256 期,2004 年7 月。
- K. Nakashima, 「Hybrid Inspection System for Color Filter Planes」,Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu, Japan, Vol. 2, pp. 689-692 ,1994.